微區XRF在諸如月壤（rǎng）等珍貴地質樣品的成（chéng）分分析（xī）中，其強大的麵掃描功能能夠在無損、樣品無製備的情況下，快速獲得顆粒樣品中各元素的分布情況並且能夠給（gěi）出準確可靠的定（dìng）量、半定量結果， 為樣（yàng）品後（hòu）續的分析奠定重要基礎。

白光（guāng）幹涉儀的作用，可以（yǐ）進行（háng）膜厚測量，溝槽測量，翹曲分析，表（biǎo）麵粗糙度測量，表麵高度及盲孔測量，樣品表（biǎo）麵圖案尺寸（cùn）測量等（děng）。廣泛應（yīng）用於半導體，光學器（qì）件，太陽（yáng）能電池，MEMS，生命科學，材料學等行（háng）業。

Conductive AFM (cAFM) — 導電原子力顯微鏡（CAFM）是一（yī）種源自接觸AFM的二次成像模（mó）式，它（tā）表征了中到（dào）低導電（diàn）和半（bàn）導（dǎo）體材料的導電率變化。CAFM的電流範（fàn）圍為pA至μA。

Bruker M4 Tornado 微區X射線熒光光譜儀是樣品（pǐn）成分分析、成分分布規律研究的新利器（qì）。

布魯克元素分析產品選型指南

是利用物質在火花激發下，檢測器通過（guò）檢測不同（tóng）元素的特征（zhēng）譜線，而（ér）進行元素的定性與定（dìng）量分（fèn）析的。