1.設備（bèi）應用簡介（jiè）
       Bruker M4 Tornado 微區（qū）X射線熒光光譜儀是樣品成分（fèn）分析、成（chéng）分分布規律（lǜ）研究的新利器。成分的（de）分布規律研究可以給（gěi）學（xué）者從宏觀、微觀、微宏觀結合等（děng）多個角度提供新的研（yán）究思路。目前該設備已經在植物環（huán）境、科技考古、地球科學（xué）、材料科學、生物工程、刑事（shì）偵查等領域有著諸多的應用案例。該設備在國內外有專業（yè）的應用開發（fā）人員，專注於新應用領域的（de）開發。
2.主要功能：
       Bruker M4 Tornado可以對大塊、不均勻、不規則樣品、甚至小件樣（yàng）品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性元素分析（C6-Am95）。采用多導毛細管聚焦鏡將（jiāng）激發（fā）光聚焦到非常小的區域（yù） （<20μm），以獲（huò）得良好的空間分辨率，進行元素成像分析（xī）。不同類型（xíng）的樣品都（dōu）可以通過簡單的樣品製備甚至不製備直接進行分析。設備輸出高精度的元素分（fèn）布圖，分辨率可高達（dá）4000萬像素（sù），7168*5582  pixels。
3.應用案例

植物環境應用（yòng）
      微（wēi）區X射線熒光光譜儀設備可以快速的對不同種類的動、植物樣本進行（háng）無損掃描，適時觀測植物樣品的根、莖、葉、花、種子中元素遷移過程，不同階段元素含量變化以及元素（sù）成像分析;可同時開展土壤重金屬汙染監控，植物營養學（xué）及抗逆性研究，昆蟲（chóng）形態（tài）學研究，生物組織相容性研（yán）究等。
      利用微區XRF分析水稻葉片，通過野生型（xíng）和多個突變體的P元素運移富集（jí）規律，確定了幾種SR蛋白作（zuò）為磷營養元素的（de）關鍵（jiàn）調節因子，並顯示（shì）了三個（gè）SR蛋白（bái）編碼基因調控水稻磷的吸收和莖葉間的遷移。

科技考古
       考古研（yán）究中，X射線熒光光譜（pǔ）主要是測定古物中的成分，進而（ér）推斷和判斷當時的人類社會文化。微區X射線熒光光譜分（fèn）析不僅提供定量數（shù）據還可以直（zhí）觀給出成分分布數據。主要應用於陶瓷、青銅器、金銀器（qì）、古建築、字畫顏（yán）料、古建築等文物的成分分（fèn）析。
       利用微區XRF分析新（xīn）石器時代（dài）早期的白陶，從白陶樣品（pǐn）斷麵 Ca 元素分（fèn）布看出白陶內壁有明顯的結層，鈣元素的富集區域正好對應於樣品內壁的結層位置，說明這層殘留物應該是富含鈣質的水垢類物質。這揭示了白陶在新石器已經作為實用器。

地球科學領域
       微區X射（shè）線熒光光譜儀是地球化學方向的重要（yào）分（fèn）析儀器，主要用於岩石、隕石、化石等樣品進（jìn）行（háng）無損高速掃描與元素分布成像，以及礦物識別、定量及（jí）分類。
       利用微區XRF分析地質薄片（piàn）或礦石原石，可以獲取薄片表麵的元素分布規律，同時可以利用專業軟件，獲（huò）取礦（kuàng）物分布的信息，從而獲得樣品成分分布（bù）的宏觀規律（lǜ）。

礦物分布圖：

材料（liào）科學
        應用於（yú）薄膜鍍（dù）層（céng）厚度及均（jun1）勻（yún）性研究；納米薄膜中金屬顆粒（lì）摻雜的成（chéng）分以及分布成像；還（hái）可以對金屬表麵離子腐蝕、塗層工藝元素分布進行識別（bié）；合（hé）金樣品成分梯度的（de）表征；探測器芯片等電子部件的質量控（kòng）製與故障檢測，量化觸點與焊接（jiē）點的元素識別與失效性分（fèn）析。
       利用微區XRF分析混凝土，可（kě）以清晰的看（kàn）出Cl元素的分布及侵（qīn）入深度。可以根據元素的分布情況獲取有害（hài）元素的種類及侵蝕情況，對（duì）材料的結構（gòu）性進行評估，以及結構強度修複提供數據支撐。

生物工程（chéng）
       應用於生物組織切片；植（zhí）入物與生物（wù）組織相互影（yǐng）響元素滲（shèn）透分布成像；還（hái）可以仿生學材料（liào）的有（yǒu）害物質進行分析等。
利用微區XRF分（fèn）析人工韌（rèn）帶，將人工韌（rèn）帶植物生物體（tǐ）內（nèi）一段時間後取出測試，根據Ca元素和Cl元素的分布圖，可以看出人工韌帶中（zhōng）的礦物沉（chén）積 以及是否會有一些雜質（zhì）元素和副產物的產生。

刑（xíng）偵公安
       利用微區XRF分析對（duì）衣物上彈孔進行射擊殘留物分析（xī），殘留物大部分顆粒很（hěn）小，無法（fǎ）直（zhí）接檢測。理想方（fāng）法是將這些顆粒物的分布進行（háng）高分辨（biàn）率成像。根據Cu、Pb、Ba元素的成像，可以獲取彈藥種類、距離和射（shè）擊角度（dù）等相關數據。