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在線式X射線熒光分析儀（yí） XMS
XMS是一款適用於工業自動化的在（zài）線（xiàn）式（shì）X射（shè）線熒光分析（xī）儀（yí），具有快速數據采集和分析能（néng）力，能夠幫助製造商優化工（gōng）藝流程和（hé）提供產品質量。
手持式X熒光光譜儀
能夠快速而準（zhǔn）確的完成（chéng）元素定性/定量分析，適（shì）用於多（duō）種環境，包括（kuò）合金分析、PMI材質分析，礦石（shí）成分分析、土壤重金屬檢測、RoHS 2.0檢測，鍍層測厚、化肥和動物飼料成分分析、鋰電池以及廢舊金屬回收等各（gè）行（háng）.....
布（bù）魯克科研級手持式XRF分析儀 TRACER 5g
更高（gāo）精度、更多元素檢測範圍，可測到氟元素的科研（yán）級手持式XRF光（guāng）譜儀（yí）
微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO
微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣（yàng）品（pǐn）、不規則樣品、甚至（zhì）小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
TXRF全反射X射線熒光光譜（pǔ）儀S2 PICOFOX
TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮（fú）物、過（guò）濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進（jìn）行（háng）定性、定量（liàng）分析，元（yuán）素（sù）範圍13Al-92U。
微區X射線熒（yíng）光成像光譜儀PLUS
M4 TORNADO PLUS 微區X射線熒光成像（xiàng）光譜儀是（shì）能夠（gòu）檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區X射線熒光成像光譜儀（yí）。
便攜台式xrf分（fèn）析儀
便攜式XRF分析儀適用於在（zài）實驗室（shì）內外（wài）檢測固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進行（háng）現場檢測,但是,當需要對樣品（pǐn）進行預備時（shí）;當樣品為粉末（mò）,固體和（hé）液體等形態,存放在容器中時;當需要較長時（shí）間的檢測.....

新品發布 - 布魯（lǔ）克探針式輪廓儀/台階儀 Dektak Pro
Dektak Pro是布魯克新發布的一款的探針式輪（lún）廓儀/台階儀（yí），基（jī）於第十一（yī）代Dektak®係統，具有4 Å重複性的優（yōu）異表現，並提供200毫米平台選項
布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-200
ContourX係列中的高效能白光幹涉儀，配備自動XYZ樣品台、查找表麵功能（néng）、拚接及大範（fàn）圍成像功能。
布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-1000
布（bù）魯克白光幹涉儀，適用於研究和生產的自校準、具備全自（zì）動解（jiě）決方案的三維光學輪廓係（xì）統
布魯克探針式輪廓儀/台階儀
能夠實現嚴苛的（de）納米水（shuǐ）平表麵測量，提供更高的重複（fù）性和分辨率，不論是性能、易用性還是價格都更具有競爭力的探針式輪廓儀
布魯克探針式輪廓儀係統 / 台階（jiē）儀係統 Dektak XTL
一款可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，適用於大規格晶圓和麵板製造領域、QC（質量控製）/QA（質量保證）的探針式輪廓儀係統
布（bù）魯克原子力顯微鏡/AFM Dimension Icon
原子力顯微鏡Dimension Icon是一款性能卓越、具備智能成像模（mó）式 ( Scan Asyst) 和大樣品台的原子力顯（xiǎn）微鏡
光學輪廓儀ContourGT-X
布魯克光學（xué）輪廓儀特性：業界標杆，大視場下高的垂直（zhí）分（fèn）辨率；從（cóng）0.5x到200x不同（tóng）放大（dà）倍率實現不同麵型和織構表（biǎo）麵的（de）表征；硬件的優化設計進一步的儀器抗噪（zào）聲能力、係（xì）統（tǒng）靈活性和測量穩（wěn）定性

薄膜應力及基底翹曲測（cè）試設（shè）備
FSM128係列設備，裝備有光學掃（sǎo）描係統。
薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM 500TC 200mm 高（gāo）溫應（yīng）力測試係統可以幫助研發和工藝工（gōng）程師評估薄膜的熱力學性能和穩定性特性
矽片表麵形貌測量
矽片表麵形貌（mào）測量,材料表麵形貌分析
晶圓厚度測量係統
FSM413回波探頭傳感器使用紅外（IR）幹涉測量技術（shù）。

I-V 曲線測試儀
PV200為光（guāng）伏係統提供了一個測試及診斷解決方案
電荷靈敏前置放大器
CUBE（立方）是一種以脈衝（chōng）複位（wèi）模式運行的單片電荷靈敏式前置放大（dà）器，借助外部電阻器，也可以以連續複位模式運行（háng）。
原（yuán）子力顯微鏡（jìng）探針/AFM探針
布魯（lǔ）克AFM探針具有多種款式和型（xíng）號，能夠滿足多種應用領（lǐng）域中的原子力顯微鏡（AFM）解決方案（àn）。
檢測服務 - 介紹
承接成分分析、大麵積元素分析成像、材料表麵形貌分析等檢測服務