
薄膜應力及(jí)基底翹(qiào)曲測(cè)試設(shè)備
FSM128係列設備,裝備有光學掃描係統(tǒng)。
薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM 500TC 200mm 高溫應力測試係統可以幫助研發和工藝工程師評估薄膜的熱力學性.....
晶圓(yuán)厚度測量係統(tǒng)
FSM413回(huí)波(bō)探頭傳感器使用具有紅外(IR)幹涉測量技術
Line Card
全自(zì)動紫外線芯片應力測量儀
全(quán)自動紫外線芯片應力測量儀一台全自動紫外線——可見光RAMan儀器,主要用與測量芯片應力。
紅外幹涉測量設備
紅(hóng)外(wài)幹涉(shè)測量技術, 非接觸式測量
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傳真:86-021-57656381
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