納米壓痕儀/納米力學（xué）測試係統 Hysitron TI 980
TI980是多樣化的（de）納米力學表征工（gōng）具，在納米力學表征中提供高水平的（de）優異性能、增強功能及多樣.....
反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快（kuài）速且穩定的被測量。
反射膜厚儀
采用近紅外光譜（pǔ）(NIR)的測厚儀可（kě）以用（yòng）於測（cè）量（liàng）一些可見（jiàn）光和（hé）紫外光無法使用（yòng）的應（yīng）用領域
光學輪（lún）廓儀係統
光學輪廓（kuò）儀係統適（shì）用（yòng）於科研和生產的高質量表麵測量手段ContourGT-I3D光學顯微鏡將三.....
三維表麵測量係統
布魯克（kè）NPFLEX 三維表麵測量係統（tǒng）為大樣品的（de）表麵表征測（cè）量提供了靈活的非接觸式的（de）方案，超過.....
掃描探針顯微鏡
同類AFM中具有很低的噪音水平和很高的分辨率Innova掃描探針（zhēn）顯微鏡（SPM）
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