三維表（biǎo）麵測量係統（tǒng）-鉑（bó）悅儀器（上海）有（yǒu）限（xiàn）公司

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三維表麵測量係統

更新（xīn）時間：2023-02-10

產品（pǐn）品牌（pái）：Bruker

產品型號：NP Flex

產（chǎn）品描述：布（bù）魯克NPFLEX 三維（wéi）表麵測量係統為大樣品的表麵表征測量提供了靈（líng）活的非接觸式的方案，超過300度的測量空間，克服了以往（wǎng）由（yóu）於零件某些角度或取向問題造（zào）成的測量困難。NPFLEX是針對（duì）大型、異型工件進行（háng）非（fēi）接觸測量，獲得微米級、毫米級樣品形貌特征（zhēng）的三維表麵（miàn）測量係（xì）統。

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為大尺寸工件加工（gōng）提供非接觸準確測量布魯克的NPFlex三維表（biǎo）麵測量係（xì）統為大樣品（pǐn）的表麵（miàn）表（biǎo）征測量提供了靈活的非接觸式的方案，可廣泛用於醫療植入，航空航天、汽車或加工（gōng）上的大型、異型工件的測量。基於白光幹涉（shè）原理，NPFlex為用戶提供超（chāo）過接觸式方（fāng）法所能達到的更大數據量、更高分辨率和更好的重複性，使它成為互補型的測量方案。

開放式的龍（lóng）門設計克服了以往某些零件由於角度或取向造成的測量困難，現在NPFlex可實現超過300度的（de）測量空間。NPFlex的靈活性、數據準確性和（hé）測試效率（lǜ）為加工行業提供了一種簡單的方法，來實現其更苛刻的加工要求、加工工藝和更好的終端產品。

布魯克NPFLEX三維表麵測量係統為大樣品的表麵表征測量提供了靈活的（de）非（fēi）接觸式的方案，超過300度的測量（liàng）空間，克服了以往由於零件某些角度或取向問題造成（chéng）的（de）測量困難。NPFLEX是針（zhēn）對大型、異型工件進行非接觸測量，獲（huò）得（dé）微米級、毫米級樣品（pǐn）形貌特征的三維表麵測量係（xì）統。

其靈活性表現在可用於測量表征更大的麵型和更難測的角度

·空間設計使得可測零件（jiàn）（樣品）更大、形狀更多

·開放式龍門、定製的夾具和可選的搖擺測量頭可輕鬆測量想測部（bù）位

三維表（biǎo）麵信息測（cè）量

·每次（cì）測量均可獲取多種分析結果

·更容易獲得更多的測量數據來幫助分析

垂直方向可達納米級分辨（biàn）率，提供更多的細節

·幹涉技術實現每一（yī）個測量象（xiàng）素點上亞納米級垂直分辨率

快速獲（huò）取測量數據，測試過程迅速

·少的（de）樣品準備時間和測量準備時間

·比接觸法測量（liàng）（一條線）更大的視場（一個麵）獲得表麵更多的數據