反射膜厚儀
反射膜厚（hòu）儀是一種非（fēi）接觸式（shì）、快速的光學薄膜厚度測量技術。
反射膜厚儀
MProbe Vis薄膜測厚儀對大部分（fèn）透（tòu）光或弱吸（xī）收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
反射膜厚儀
大部分透（tòu）光或弱吸收的薄膜均可（kě）以快速且穩定的被測量。
反射（shè）膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均（jun1）可以（yǐ）快速且穩定的被測量。
反射膜厚儀
采用近紅（hóng）外光譜(NIR)的測厚儀可以用於測量（liàng）一些可（kě）見光和紫（zǐ）外（wài）光無法使用的應用領域
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