
反射膜厚儀
反射膜厚(hòu)儀是一種非(fēi)接觸式(shì)、快速的光學薄膜厚度測量技術。
反射膜厚儀
MProbe Vis薄膜測厚儀對大部分(fèn)透(tòu)光或弱吸(xī)收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
反射膜厚儀
大部分透(tòu)光或弱吸收的薄膜均可(kě)以快速且穩定的被測量。
反射(shè)膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均(jun1)可以(yǐ)快速且穩定的被測量。
反射膜厚儀
采用近紅(hóng)外光譜(NIR)的測厚儀可以用於測量(liàng)一些可(kě)見光和紫(zǐ)外(wài)光無法使用的應用領域
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