反射膜（mó）厚儀-800av凹凸视频在线观看儀器（上海）有限公司

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反射膜厚儀

更新時間：2020-08-12

產（chǎn）品品牌：Semiconsoft

產品型號：MProbe Vis

產品描述：MProbe Vis薄膜測厚儀對大部分透光或弱吸收的薄膜（mó）均可以快速且（qiě）穩定的被測量。

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產品概述

MProbe Vis薄膜測厚儀大部分（fèn）透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被（bèi）測量。比如：氧化物，氮化物（wù），光刻膠，高分子聚合物，半導體(矽，單（dān）晶矽，多晶矽)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬塗層(碳化矽，類（lèi）金剛石炭（tàn）)，聚（jù）合物塗層(聚甲（jiǎ）基丙烯酸甲酯，聚酰胺

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定（dìng）的被MProbe Vis測厚儀（yí）測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(矽，單晶矽，多晶矽)，半導體化（huà）合（hé）物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬塗層(碳化矽，類金剛石炭)，聚（jù）合物塗層(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)。

測（cè）量範圍: 15 nm -50um

波（bō）長範圍: 400 nm -1100 nm

MProbe Vis薄膜測厚儀適用（yòng）於實時在線測量，多層測量，非均勻塗層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持（chí）多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。

測量指標：薄（báo）膜厚（hòu）度，光學常數

界麵友好: 一鍵式測量和分析。

MProbe Vis薄膜測厚儀（yí）實用的（de）工具：曲（qǔ）線擬（nǐ）合和靈敏度分析，背景和變形校正，連接層和材料，多樣品測量，動態測量和產線批量處理。

案例1，300nm二氧化矽薄膜的測量：

矽晶圓反射率，測量時間10ms：

案例2，測量500nm氮化鋁，測量參數：厚度和表麵粗糙度