反射膜厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜(mó)均可以快速且穩定的被測量。
貴金屬檢測
貴金屬檢測其分析方(fāng)法是具有能量分辨率的X射線探測器同時探測樣品所發出的各種(zhǒng)能量特征X射線,.....
TXRF全反射X射(shè)線熒(yíng)光光譜(pǔ)儀S4 TSTAR
X射線熒光(XRF)光譜法在多個行業中被廣泛用於對固體和石油化工樣品進行元素分析,檢測限值.....
納米壓痕儀/納米力學測試係(xì)統 Hysitron TI 980
TI980是多樣化的納米力學表(biǎo)征工具,在納米力學表征中提供高(gāo)水平的優異性能、增強功能及多樣.....
晶圓厚度測量係統
FSM413回波探(tàn)頭傳感器使用具(jù)有紅外(IR)幹涉測量技術
反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄(báo)膜均可以快速且穩定的被測(cè)量。
直讀(dú)光譜儀
台式直讀光譜儀是一款具備技術靈活性和操作便利性的(de)火花直讀光譜儀.采用通道光(guāng)電倍增管技術,數.....
移動式微(wēi)區XRF元素成像光譜儀 M6 JETSTREAM
高分辨率(lǜ)、快速成像、大麵積微區XRF成像光譜儀(yí)
反射膜厚儀
采(cǎi)用近紅外光譜(NIR)的(de)測厚儀(yí)可以用於測量一些(xiē)可見光和紫外光無法使用的應用領域
藝術與考(kǎo)古分析(xī)儀
TRACER 5i是Bruker公司2016年底發(fā)布的科研型手(shǒu)持式XRF設備,也稱便攜式X.....
輕便型直讀光譜(pǔ)儀Q2 ION
Q2 ION是一款適合於金屬材料分析的輕便型直讀光譜儀
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