原子力顯微鏡Dimension Icon

性能優異、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品（pǐn）台的（de）原子力顯微鏡（jìng）

Bruker Dimension®   Icon™  原子力顯微鏡為工業界和科研界納（nà）米領域的研究者帶來了全新（xīn）的應用體驗，具有更高水平（píng）的性（xìng）能，多種不同功能和配件選擇，測試功能強大，操作簡便易行。

通（tōng）過齊集Dimension係統數十年的技術（shù）經驗、廣大客戶反饋、結合工業領域的設（shè）備需求， Dimension Icon進行（háng）了全（quán）麵革新。全新的係統設計，實現了（le）更高水準的低（dī）漂（piāo）移和（hé）低噪（zào）音水平。現在，用戶隻需（xū）要幾分鍾就（jiù）可獲取真實準確的掃描圖像。

優異性能

·      獨特的傳感器設計（jì），在閉環條件下，也能（néng）實現開環噪聲（shēng）級別的（de）大樣品高分辨率掃描成像。

·      進一步有效的降低了噪聲水平，接觸模式下可獲得原子級圖像，在輕敲模式下（xià）低於（yú） 30pm

·      熱漂（piāo）移速率低千200pm/ 分鍾，獲（huò）得真正（zhèng）的無曲圖像 

快（kuài）速、高效的檢測（cè）效率

·      XYZ閉環掃描器的新型設計，使儀器在較高掃描（miáo）速度工作（zuò）時，也會不降（jiàng）低圖像質量，並有更好的數（shù）據采集效率。

·      參數預設（shè）置中融入了多（duō）年的研發經驗，新的NanoS cope® 軟件帶有（yǒu）默認的實驗模式（shì） 。

·      高分辨率相機和X-Y定位可快速、高（gāo）效（xiào）地找到樣品測量位置

強大的多功能性

·      針尖和樣品之間具有開放式空間（jiān），不僅可以進（jìn）行各種標準實（shí）驗，也可以自（zì）行設計實（shí）驗方案，能夠滿足不同研究工作的需求

·      在硬件（jiàn）和軟件技術方麵（miàn）的（de）不斷創新，新開發的HarmoniX模式，可以測量納米尺（chǐ）度上材料性質

·      用戶可通過使用程序腳本進行半自動測（cè）量（liàng）和數據分析 

產品特色

高性能和高（gāo）分（fèn）辨率

Dimension®  Icon™是布魯克在針尖掃描技術上的（de）一項革新技術，具有卓越（yuè）的分辨率，與Bruker獨特的電（diàn）子掃描算法相結合，顯著（zhe）提升了測量速度（dù）與質量。

係統配置溫度（dù）補（bǔ）償位置傳感器，實現了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在（zài） 90 微米掃描範圍、大樣品台係統上（shàng），效果甚（shèn）至超過大部分（fèn）高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。XYZ 閉環掃描頭的新設計（jì）使儀器在較高掃描速度（dù）工作時，圖（tú）像質量也不（bú）會（huì）被損壞，實（shí）現了更（gèng）大的數據采集（jí）輸（shū）出量。

配置了Bruker的PeakForce®技術，Dimension Icon可實現智能獲取高分辨（biàn）圖像。

接觸模式獲得的雲（yún）母原子（zǐ）圖像，掃描速（sù）度0.6Hz

卓越表現

      Dimension  Icon原子力（lì）顯微鏡已成為研究領域飽受歡迎的原（yuán）子力顯（xiǎn）微鏡型（xíng）號之一， 使用Dimension  Icon發表文章的數目比其他大樣品台AFM更多。Dimension Icon 在原有的操作平台上引入新技術，展現出更高的性能（néng）和更快的測量速度。其軟件直觀的工作流程，使其操作過（guò）程（chéng）比以往先進的AFM 技術更加（jiā）簡便。

      現在，Dimension  Icon用戶無需像以前一樣調整幾小時的專業參數，即可（kě）立即獲得高質量的測量結果。Dimension Icon 的每個方麵，從完全（quán）開放式針尖樣品（pǐn）空間，到軟件參數預（yù）設置，都經過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的（de）AFM 易用性。

Dimension Icon用戶操作界麵

應用（yòng）廣泛（fàn），表現出眾

      Dimension Icon可高速捕捉多通道數據，獲得更多（duō）高質量的測量結果。結合（hé）Bruker多項AFM方麵的技（jì）術和（hé）模式（shì）以及模式增強功能，Icon能夠提供卓越的儀器（qì）性能和出眾的測量表現，能夠幫助您在納米研究（jiū）、材料研究等領域裏更（gèng）上一層樓。

·      材料成像

ICON支持（chí）Bruker的PeakForce ONM™成像模式，研究者在獲得（dé）高分辨率形貌圖像的同時，還可以對樣品進行納米定量力學（xué）性能測試（shì），同時獲得高分辨成像。此技術適用範圍很廣(模量（liàng）從（cóng）1MPa到50GPa，粘附力從10pN到10μN)，可以對不同類型的樣品進行表征。

·      電學表征

可以以更高的靈敏度和更大的動態範圍實現電（diàn）學表征（zhēng）。把這些研究與其他技術結合起來，比如Dark Lift，可在掃描電容顯微鏡，掃（sǎo）描擴散電阻顯微鏡（jìng），扭轉共振隧道電流（liú）原子力顯微鏡中獲得真正的無假象數據

·      納米操縱

可實現在納（nà）米和分（fèn）子級別的納米操縱和刻蝕。Icon的 XYZ閉環掃描器可實現無壓（yā）電蠕變效應和超低噪音（yīn）的精密探針定（dìng）位，適用於任（rèn）何納米操縱係統（tǒng）。

·      加熱和冷卻

使用AFM不同模式掃描的同時，可實現-35°C到 250°C的溫度控製和熱分析。使用熱探針可以在小於100nm的樣（yàng）品局部加熱，達到400°C。 

靈（líng）活的AFM平台

     Dimension Icon 展現出了（le）的卓越的性能，穩定性和（hé）靈活性，幾乎可以實現以前隻有在特製係統中（zhōng）才能完成的所有測量。利用（yòng）開放式平台，大型或多元樣品（pǐn）支架和許多簡單易用的性能，把AFM 的強大功能完全展現在科研領域（yù）和工業領域的研究者麵前，為高質（zhì）量AFM成像和納米操（cāo）作設定了新的標（biāo）準。

     Dimension Icon 提供對性能沒有任何影響的靈活性平台， 一個平台，無限可（kě）能：

·      開放的平台，能整合其他技術

·      開放的軟件和硬件，能輕（qīng）鬆定製您的研究應用 - "如果它不存在， 就發明它"

·      電（diàn）池、有機太陽（yáng）能等（děng）研究（jiū）的完整解決方案（àn）

左圖：手套箱中的AFM-拉曼聯用。                      右圖：光導AFM配件。

用AFM拓展您的（de）應（yīng）用（yòng）

      憑借一整套出色的AFM成像模（mó）式，布魯克能為您（nín）每項研究提供適（shì）用的 AFM 技術。

      基於核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套 AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電（diàn）學、磁性等豐富性能。布魯（lǔ）克的全新的峰值力輕敲技術作為一種新的核心成像（xiàng）模式，已被應用到多種測量模式中，能同（tóng）時提供形貌、電學和力（lì）學性能數據。

Dimension Icon數據（jù）示（shì）例：

左：輕敲（qiāo） (Tapping) 模式（shì）中的syndiotactic polypropylene閉環成（chéng）像。掃描範圍: 5μm。

右：Syndiotactic polypropylene結晶動力學（xué）研究: 本體（tǐ）聚合物從室溫(左)快速加熱至160℃的完全熔化狀態。128°C 時，促進（jìn）了等溫結晶的平衡，並形成比原始層狀晶體更（gèng）大（dà）的晶體。右圖顯示 101 分鍾的部分結晶圖像。

左：空氣中DNA的輕敲（qiāo）模式閉（bì）環圖像。掃描（miáo）範圍: 2μm，掃描速率: 4.88Hz

中：HOPG上C36H74 烷的AFM圖像（xiàng）。清晰可見的片層結構間距，與完全擴展（zhǎn）C36H74 鏈（liàn）構象下的長度間距 (±4.5nm)一致

右：使用TR-TUNA模式對金圖案化矽基底上分散的單壁碳形貌和導電性同（tóng）時成像。掃（sǎo）描範圍: 1μm

左：壓電薄膜材料上Dimension lcon loge刻蝕圖案的壓電響應力顯微鏡(PFM)振幅圖像。顯示Icon探針在刻蝕過（guò）程中的精確 XY 定位控製。掃描範圍: 20μm

中：HarmoniX 黏附力成像顯示毛細力相（xiàng）互作用

右：HOPG上C36H74 烷的閉環、高分辨率AFM 圖像。掃描範圍: 100nm