
更(gèng)新時間:2022-07-15
產品品牌(pái):Bruker
產品(pǐn)型號:M4 TORNADO PLUS
M4 TORNADOPLUS - 微區X射線熒光成像的新紀元(yuán)
M4 TORNADO微區X射線熒光成像光(guāng)譜儀(yí)PLUS能夠檢測(cè)出C(6)-Am(95)間元素(sù)的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀(yí)。
作為微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀M4TORNADO係列的新產(chǎn)品,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,例如孔徑管理係統,高通量脈衝處理(lǐ)器以(yǐ)及快速靈活更換的樣品台。
更(gèng)輕(qīng)、更快(kuài)、更深
M4 TORNADOPLUS采(cǎi)用輕元素窗口的大麵積矽漂移探測器(SDD)實現對(duì)輕元素碳的檢測,高(gāo)通量脈衝采樣,BRUKER孔徑管理係統(AMS)可以(yǐ)獲取大景深,對(duì)表麵不平整樣品分析具有優勢。
輕元素檢測
M4 TORNADOPLUS能夠(gòu)檢測分析輕質元素(sù)碳的微區X射線熒光成像光譜儀,具(jù)備兩個具有輕元素窗口的大麵積矽漂移探測器和一個優化的Rh靶X射線光管。
與普通微區X射線熒光成像光譜儀不同(tóng),M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量範圍內(nèi)元素靈敏度的前(qián)提下,還可以檢測(cè)原子數小於11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。
隨著功能性的增強,M4 TORNADOPLUS應用也正在開發和拓展中,例(lì)如地質學、礦(kuàng)物學、生物學、聚合物研究或半導體(tǐ)行業等方向。
應用實例-螢石和方解石的區分
螢石(shí)(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區別在於(yú)分別(bié)存(cún)在輕質元素氟(F),氧(O),碳(C);由(yóu)於普通微區X射線熒光成像(xiàng)光譜儀檢測不到Z<11(Na)的元素,無法區分這兩種礦(kuàng)物,所以螢石(shí)和方(fāng)解石的光譜圖上都隻會顯示Ca元素譜(pǔ)線。
利用輕元素(sù)探測(cè)器,M4 TORNADOPLUS可以檢測氟(F)、氧(O)和碳(C),從而鑒別這兩種礦物。
圖:鑒別螢石與方解石

左:方解石(紅)和螢石(藍)的元素分布圖;圖像(xiàng)尺寸(cùn):20×12mm2;掃描分辨率:800×460pixels
右(yòu):螢石(藍)和方解石(shí)(紅(hóng))的輕質元素光譜圖(tú)。
應用實例-電路板
由於AMS的場深度深,如圖所示電路(lù)板的X射線圖像獲得更多的細節(jiē)。此外,由於(yú)激發(fā)X射線光子的入口和出口角度減小,光束能量依賴性變得不那麽明顯。
圖:具備AMS與(yǔ)不具備(bèi)AMS的電路板元素分布圖

左(zuǒ)圖(tú): 標準(zhǔn)多導毛細管聚焦在電路板上,元件的高點失焦,顯得模糊。
右圖: AMS係統加載下圖像顯示高景深(shēn),組件聚焦在更大的景(jǐng)深範圍內。
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